Beskrivelse

Tekniske parametre

158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2

P type monocrystalline wafer 1

P type monocrystalline wafer 2

210mmx210mm M12 monokrystallinsk silicium solskive med diameter på 295mm er 80,5% større end M2 skive.

1 Materielle egenskaber

Ejendom	Specifikation	Inspektionsmetode
Vækstmetode	CZ
Krystallinitet	Monokrystallinsk	Foretrukne ætsningsteknikker（ASTM F47-88）
Ledningsevne type	P-type	Napson EC-80TPN P/N
Dopant	Bor, Gallium	-
Oxygenkoncentration [Oi]	≦8E+17 ved / cm³	FTIR (ASTM F121-83)
Kulstofkoncentration [Cs]	≦5E+16 ved / cm³	FTIR (ASTM F123-91)
Ætsning af pitdensitet (dislokationstæthed)	≦500 cm^-3	Foretrukne ætsningsteknikker（ASTM F47-88）
Overfladeorientering	& lt; 100> ± 3 °	Røntgendiffraktionsmetode (ASTM F26-1987)
Retning af pseudo-firkantede sider	& lt; 010>,< 001=""> ± 3 °	Røntgendiffraktionsmetode (ASTM F26-1987)

2 Elektriske egenskaber

Ejendom

Specifikation

Inspektionsmetode

Modstand

0,5-1,5 Ωcm

Wafer-inspektionssystem

MCLT (minoritetsoperatørs levetid)

≧50 μs

Sinton BCT-400

(med injektionsniveau: 1E15 cm^-3)

3Geometri

Ejendom	Specifikation	Inspektionsmetode
Geometri	Fuld firkant
Wafer Sidelængde	210 ± 0,25 mm	waferinspektionssystem
Wafer Diameter	φ295 ± 0,25 mm	waferinspektionssystem
Vinkel mellem tilstødende sider	90° ± 0.2°	waferinspektionssystem
Tykkelse	180﹢20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm	waferinspektionssystem
TTV (Total tykkelsesvariation)	≤27 µm	waferinspektionssystem

210mmx210mm M12 monocrystalline silicon solar wafer

4 Overfladeegenskaber

Ejendom	Specifikation	Inspektionsmetode
Skæremetode	DW	--
Overfladekvalitet	som skåret og rengjort, ingen synlig forurening (olie eller fedt, fingeraftryk, sæbe pletter, gyllepletter, epoxy / lim pletter er ikke tilladt)	waferinspektionssystem
Savmærker / trin	≤ 15µm	waferinspektionssystem
Sløjfe	≤ 40 µm	waferinspektionssystem
Kæde	≤ 40 µm	waferinspektionssystem
Chip	dybde ≤0,3 mm og længde ≤ 0,5 mm Maks 2 / stk. ingen V-chip	Nøgne øjne eller waferinspektionssystem
Micro revner / huller	Ikke tilladt	waferinspektionssystem

Populære tags: p type 210mm monokrystallinsk solskive, Kina, leverandører, producenter, fabrik, fremstillet i Kina

P Type 210mm monokrystallinsk solskive